用于质量控制的库仑法镀层厚度测量

在一定的厚度以上，X射线荧光对镀层的无损测量达到了极限，这就是COULOSCOPE?CMS2发挥作用的地方。它用库仑法测量多种金属镀层的厚度，这是做相当简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2可以准确地测量许多常见的单层和多层镀层。
库仑法的成本效益高，可精确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了最大的灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度，特别是在电镀镀层的质量控制中，以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。



STEP测试:库仑法测量镀层厚度和多层镍的电化学电位测量

如果你想在使用库仑法测量镀层厚度的同时测量电化学电势，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的选择。STEP测试方法可以同时测量多层镍镀层的电位差和镀层厚度，非常适合测定这些镀层的腐蚀行为。



特性

高精度测量多层金属镀层的厚度(库仑法)
根据DIN EN ISO 2177进行测量
通过彩色显示屏和图形支持的用户指南直观地操作
可轻松选择电解速度(0.1-50微米/分钟)和电解面积(0.6-3.2mm)
针对不同镀层系统(如铁上镀锌或黄铜上镀镍)预先设定了近100种测量应用
测量单元上电压曲线的图形显示
图形和统计... [详细介绍]